LYJS9000F異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀概述

介損測(cè)量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的基本方法。突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；電源采用大功率開關(guān)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dòng)加壓，可提供高10千伏的電壓；自動(dòng)濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。

LYJS9000F異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀安全措施

1、使用本儀器前一定要認(rèn)真閱讀本手冊(cè)。

2、儀器的操作者應(yīng)具備一般電氣設(shè)備或儀器的使用常識(shí)。

3、本儀器戶內(nèi)外均可使用，但應(yīng)避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽(yáng)光直射等場(chǎng)所使用。

儀表應(yīng)避免劇烈振動(dòng)。

5、對(duì)儀器的維修、護(hù)理和調(diào)整應(yīng)由專業(yè)人員進(jìn)行。

6、在任何接線之前必須用接地電纜把儀器接地端子與大地可靠連接起來。

7、由于測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生高電壓，所以測(cè)試人員必須*嚴(yán)格遵守安全操作規(guī)程，防止他人接觸高壓部件和電路。直接從事測(cè)試的人員必須*了解高壓測(cè)試線路，及儀器操作要點(diǎn)。非從事測(cè)試人員必須遠(yuǎn)離高壓測(cè)試區(qū)，測(cè)試區(qū)必須用柵欄或繩索、警視牌等清楚表示出來。

8、儀器的調(diào)整維修和維護(hù)，必須在不加電情況下進(jìn)行，如果必須加電，則操作者必須非常熟悉本儀器高壓危險(xiǎn)部件。

9、保險(xiǎn)管損壞時(shí)，必須確保更換同樣的保險(xiǎn)，禁止更換不同型號(hào)保險(xiǎn)或?qū)⒈ｋU(xiǎn)直接短路使用。

儀器出現(xiàn)故障時(shí)，關(guān)閉電源開關(guān)，等待一分鐘之后再檢查。

可測(cè)試參數(shù)

儀器可測(cè)量下列參數(shù)并數(shù)字顯示：

被測(cè)試品的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測(cè)試品的介質(zhì)損耗值tgδ，以%顯示。

LYJS9000F性能特點(diǎn)

1、儀器采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。

2、儀器采用了變頻技術(shù)來消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。

3、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測(cè)試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。

4、儀器操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

5、一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，減少現(xiàn)場(chǎng)接線。

6、儀器測(cè)量準(zhǔn)確度高，可滿足油介損測(cè)量要求，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯，和測(cè)試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。

7、設(shè)CVT測(cè)試功能，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無需外置附件，只需一次測(cè)量，C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。

8、反接線測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。

9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線接地情況下，對(duì)C11 可進(jìn)行不拆線10kV 反接線介損測(cè)量

10、具有測(cè)量高電壓介損功能，能夠使用高壓變壓器或串聯(lián)諧振進(jìn)行超過10kV電壓的介損試驗(yàn)。

12、接地保護(hù)功能，當(dāng)儀器不接地線或接地不良時(shí)，儀器不進(jìn)入正常程序，不輸出高壓。過流保護(hù)功能，在試品短路或擊穿時(shí)儀器不受損壞。

13、觸電保護(hù)功能，當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候，儀器會(huì)立即切斷高壓，保障試驗(yàn)人員的安全.

LYJS9000F技術(shù)指標(biāo)

準(zhǔn)確度：       Cx:         ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biāo)：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍：       內(nèi)施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：              高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍：     不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A

內(nèi)施高壓：    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

試驗(yàn)頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻

頻率精度：    ±0.01Hz

外施高壓：    正接線時(shí)大試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時(shí)大試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測(cè)量：

變比測(cè)量精度：±讀數(shù)×1%     變比測(cè)量范圍：10～99999

相位測(cè)量精度：±0.1°           相位測(cè)量范圍：0～359.9°

測(cè)量時(shí)間：    約40s，與測(cè)量方式有關(guān)

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電

計(jì)算機(jī)接口：       標(biāo)準(zhǔn)RS232接口

打印機(jī)：              煒煌A7熱敏微型打印機(jī)

環(huán)境溫度：    -10℃～50℃

相對(duì)濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

LYJS9000F測(cè)量方式及原理

按被測(cè)試品是否接地分兩種測(cè)量方式，即正接線測(cè)量方式和反接線測(cè)量方式。兩種測(cè)量方式的原理如圖一所示：

在高壓電源的10kV側(cè)，高壓分兩路，一路給機(jī)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容CN，此電容介損非常小，可以認(rèn)為介損為零，即為純?nèi)菪噪娏鳎穗娏鱅CN 可做為容性電流基準(zhǔn)。在Cx試品一側(cè)，試品電流Icx通過采樣電阻R采入機(jī)內(nèi)，此Icx可分解成水平分量和垂直分量見圖二所示，通過計(jì)算水平分量與垂直分量的比值即可得到tgδ值。

在圖一（a）中Cx為非接地試品，試品電流Icx從試品末端進(jìn)入采樣電阻R，得到全電流值，在圖一（b）中Cx為接地試品，機(jī)內(nèi)Cx端直接接地，電流Icx從試品高壓端到機(jī)內(nèi)采樣電阻取得全電流值。

常見設(shè)備的接線方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀器的測(cè)量引線高壓端（帶危險(xiǎn)電壓） 。

CX ——  正接線時(shí)試品電流輸入端。

——  儀器的接地端，使用時(shí)與大地可靠相接

2.參考接線

2.1正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓（常規(guī)正接線）：

2.2反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓（常規(guī)反接線）

2.3正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓：

2.4反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓：

2.5正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.6反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.7正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓（高電壓介損）：

2.8反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.9  CVT自激法測(cè)量：

CVT自激法可按下圖接線。如果C1是單節(jié)電容，母線不能接地；如果C1是多節(jié)電容，母線可接地，C11和C12可用常規(guī)正反接線測(cè)量，C13和C2用自激法測(cè)量。

CVT自激法測(cè)量中，儀器先測(cè)量C1，然后自動(dòng)倒線測(cè)量C2，并自動(dòng)校準(zhǔn)分壓影響。

應(yīng)注意，高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差，可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。強(qiáng)烈建議使用高壓插座使用的高壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變比測(cè)試

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地。CVT下端接地，低壓線紅黑夾子接二次繞組，注意:如果測(cè)試角度接近180度，應(yīng)將紅黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標(biāo)在 電壓：10kV上面時(shí)候，按“確認(rèn)”鍵在儀器屏幕的左下角會(huì)出現(xiàn)圖標(biāo)，代表測(cè)試結(jié)束自動(dòng)打印。如果再按確認(rèn)鍵，圖標(biāo)消失，代表測(cè)試結(jié)束必須手動(dòng)才能打印。

3.2光標(biāo)在 反接 上面時(shí)候，在反接線，內(nèi)Cn，內(nèi)Un，情況下，按確認(rèn)鍵在儀器屏幕右下角會(huì)出現(xiàn)圖標(biāo)，代表反接線低壓屏蔽測(cè)試。如果再按確認(rèn)鍵，圖標(biāo)消失，代表取消反接線低壓屏蔽。

反接線低壓屏蔽功能，一次接線可同時(shí)測(cè)出C1和C2的電容量和介損在反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)高壓方式，光標(biāo)移到“反接”處，按“確認(rèn)”右下角顯示“M”。

打開反接線低壓屏蔽，可在上端電容C1不拆母線的情況下，對(duì)其進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測(cè)量。如下圖所示：母線掛地線，C1上端不拆線，C1下端接高壓線芯線，C2末端接Cx芯線。儀器采用反接線/10kV/M測(cè)量方式，可同時(shí)測(cè)出C11和下端屏蔽部分的電容量和介損值。

3.3光標(biāo)在 正接 上面時(shí)候，按確認(rèn)鍵則測(cè)試打印機(jī)，換紙。

3.4光標(biāo)在 啟動(dòng) 上面時(shí)候，按減小鍵則代表取出存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。

3.5測(cè)試完畢，如果按減小鍵，則代表存儲(chǔ)測(cè)試的數(shù)據(jù)

儀器功能簡(jiǎn)介

儀器面板見圖九所示：

打印機(jī)——打印測(cè)量數(shù)據(jù)。

顯示器——128×64點(diǎn)陣液晶顯示器，顯示菜單和各種提示信息及測(cè)量結(jié)果。

鍵——選擇菜單項(xiàng)，被選中項(xiàng)反白字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內(nèi)容，采用循環(huán)滾動(dòng)方式。

▼ 鍵——修改菜單內(nèi)容，采用循環(huán)滾動(dòng)方式。

確認(rèn)鍵——在“測(cè)試”選項(xiàng)上按此鍵進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)。

電源開關(guān)——整機(jī)電源的開啟和關(guān)閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險(xiǎn)倉(cāng)。

9．自激法電流輸出端——測(cè)量CVT的端子。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插座——是試品信號(hào)的測(cè)量輸入端，正接線時(shí)由低壓電纜連接，此電纜單層屏蔽帶特制鱷魚夾，長(zhǎng)8m，接試品低端。反接線時(shí)此端空置。

12．CN插座——是外標(biāo)準(zhǔn)電容信號(hào)的測(cè)量輸入端，使用內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)此端空置。

13．HV插座——高壓引出端子，由高壓電纜連接，接試品高壓端。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來連接電腦，上傳數(shù)據(jù)?！?/span>

儀器操作步驟

1．測(cè)量前準(zhǔn)備：

 1）用接地線一端接儀器的接地柱，另一端接可靠的大地，保證儀器外殼處在地電位上。

 2）正接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的引線上，黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中，另一端的紅色夾子夾試品的低端，黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。

 3）反接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的引線上，紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

2．打開電源開關(guān)，儀器進(jìn)行自檢，若自檢良好，液晶屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單選擇：

按   鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng)，并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖十一所示。

在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目，按▼ ▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更，并循環(huán)指示，流程見圖十二所示。

將菜單變更至與測(cè)試要求相對(duì)應(yīng)后即可按選擇鍵進(jìn)行下個(gè)項(xiàng)目的選擇。

4、 頻率：光標(biāo)在頻率上，按↑↓鍵選擇定頻和變頻：

光標(biāo)在定頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huán)顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(cè)量，此設(shè)置不能抗干擾，在試驗(yàn)室內(nèi)測(cè)量或校驗(yàn)時(shí)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測(cè)量，研究不同頻率下介損的變化時(shí)選用。

光標(biāo)在變頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huán)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dòng)變頻，適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

5、測(cè)試：當(dāng)光標(biāo)在 測(cè)試 項(xiàng)目上時(shí)，按確認(rèn)鍵大約3秒鐘開始測(cè)試。測(cè)試過程中顯示的畫面如圖十三（正接線，變頻）所示，當(dāng)下面的進(jìn)程到100%時(shí)候測(cè)試完畢，然后顯示測(cè)量結(jié)果見圖十四所示，此時(shí)光標(biāo)指示打印機(jī)圖標(biāo)，按確認(rèn)鍵打印報(bào)告。測(cè)量結(jié)果的意義如下：

tgδ： 試品的損耗因數(shù)tgδ值

CX： 測(cè)量的電容值

V：施加電壓值

I：試品流過的電流

F1,F2 : 試驗(yàn)頻率

打印結(jié)束后，關(guān)閉電源開關(guān)，測(cè)試完畢。

現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)注意事項(xiàng)

如果使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸不良

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線氧化層太厚，或風(fēng)吹線擺動(dòng)，易造成接觸不良。

2、接地接觸不良

接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

3、直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT

直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。

用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。

4、空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。

5、發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻50Hz模式工作。

6、測(cè)試線

由于長(zhǎng)期使用，易造成測(cè)試線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸不良，用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線；

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測(cè)量CVT時(shí)，非的高壓線應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。

7、工作模式選擇

接好線后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（正、反和CVT），不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

8、試驗(yàn)方法影響

由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時(shí)可首先檢查接線，然后檢查是否為儀器故障。

9、儀器故障

用萬用表測(cè)量一下測(cè)試線是否斷路，或芯線和屏蔽是否短路；輸入電源220V過高或過低；接地是否良好。

用正、反接線測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒有問題；

拔下所有測(cè)試導(dǎo)線，進(jìn)行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。

啟動(dòng)CVT測(cè)量后測(cè)量低壓輸出，應(yīng)出現(xiàn)2～5V電壓，否則儀器有故障。

儀器檢定

1、用標(biāo)準(zhǔn)損耗器檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度，應(yīng)使用比對(duì)法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。儀器應(yīng)選用“內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)”和“RC串聯(lián)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測(cè)量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當(dāng)值。

3、抗干擾能力

設(shè)置一個(gè)回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dòng)后會(huì)使220V供電電路帶有測(cè)量頻率分量，如果該頻率分量又通過干擾電流進(jìn)入儀器，則無法檢驗(yàn)儀器的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾，因?yàn)檫@樣很容易產(chǎn)生近距離*放電，這種放電電阻是非線性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。

變頻測(cè)量討論

1、變頻測(cè)量

干擾十分嚴(yán)重時(shí)，變頻測(cè)量能得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測(cè)量時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)只允許55Hz信號(hào)通過，50Hz干擾信號(hào)被有效抑制，原因在于測(cè)量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率，由下述簡(jiǎn)單計(jì)算可以說明選頻測(cè)量的效果：

兩個(gè)頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是干擾，幅度為低頻的10倍：

Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)

在x=0/90/180/270°得到4個(gè)測(cè)量值

Y0=12.4517，Y1= -11.1017，Y2=12.2075，Y3= -13.5576，

計(jì)算A=Y1-Y3=2.4559，B=Y0-Y2=0.2442，則：

φ=tg-1(B/A)=5.678°      V=  A2+B2/2=1.234

這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實(shí)際波形的測(cè)量點(diǎn)多達(dá)數(shù)萬，計(jì)算量很大，結(jié)果反映了波形的整體特征。

2、頻率和介損的關(guān)系

介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型：串聯(lián)模型tgδ=2πfRC，并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示，f對(duì)*正比和*反比兩種模型影響較大。但實(shí)際電容器是多種模型交織的混合模型，此時(shí)f的影響就小。

3、自動(dòng)變頻與50Hz等效

儀器采用自動(dòng)變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)（45Hz和55Hz）各測(cè)一個(gè)點(diǎn)，然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個(gè)元件電路的低頻諧振外，單個(gè)試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰，工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的。因此這種測(cè)量方法不會(huì)帶來明顯誤差。實(shí)際上，平均前的兩個(gè)介損值已十分接近，即使不平均也*有參考價(jià)值。目前，變頻介損儀已成為介損測(cè)量的常規(guī)儀器，其優(yōu)異的抗干擾能力和準(zhǔn)確度已經(jīng)得到認(rèn)可。

儀器的裝箱清單

特點(diǎn)及性能

介損絕緣試驗(yàn)可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)以及局部缺陷等，在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。

介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x用于現(xiàn)場(chǎng)介損測(cè)量或試驗(yàn)室精密介損測(cè)量。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗(yàn)變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。儀器采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動(dòng)智能化測(cè)量，強(qiáng)干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。測(cè)量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，儀器自帶微型打印機(jī)可打印輸出測(cè)試結(jié)果。

1.1主要技術(shù)指標(biāo)

額定工作條件：環(huán)境溫度  -10℃～50℃

相對(duì)濕度  <85%

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電

準(zhǔn)確度：      Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biāo)：         變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍：         內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨率：           高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍：     不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

試驗(yàn)電流范圍： 10μA～5A

內(nèi)施高壓：    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度：±(1.0%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗(yàn)頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動(dòng)雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線時(shí)大試驗(yàn)電流5A

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

高電壓介損：  支持變頻和諧振電源高電壓介損

實(shí)時(shí)時(shí)鐘：    實(shí)時(shí)顯示時(shí)間和日期

內(nèi)部存儲(chǔ)：    儀器內(nèi)部可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)

U盤：        支持U盤存儲(chǔ)

打印機(jī)：      微型熱敏打印機(jī)

計(jì)算機(jī)接口：  標(biāo)準(zhǔn)RS232接口（選配）

尺寸重量：    K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機(jī)重量22kg。

其他款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機(jī)重量30kg。

注：上述為E型主要技術(shù)指標(biāo)，其它型號(hào)技術(shù)指標(biāo)詳見本章節(jié)“1.3.6各型號(hào)測(cè)試功能說明”。

1.2 系列型號(hào)功能列表

1.3 主要功能特點(diǎn)

1.3.1 變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術(shù)，在200%干擾下仍能準(zhǔn)確測(cè)量，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，適合在現(xiàn)場(chǎng)做抗干擾介損試驗(yàn)。

1.3.2高精度測(cè)量

采用數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù)，配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高精度介損測(cè)量。儀器所有量程輸入電阻低于2Ω，消除了測(cè)量電纜附加電容的影響。

1.3.3安全措施

高壓保護(hù)：試品短路、擊穿或高壓電流波動(dòng)，能以短路方式高速切斷輸出。

供電保護(hù)：誤接380V、電源波動(dòng)或突然斷電，啟動(dòng)保護(hù)，不會(huì)引起過電壓。

接地保護(hù)：具有接地檢測(cè)功能，未接地時(shí)不能升壓，若測(cè)量過程中儀器接地不良則啟動(dòng)接地保護(hù)。

CVT 保護(hù)：高壓側(cè)電壓和電流、低壓側(cè)電壓和電流四個(gè)保護(hù)限制，不會(huì)損壞設(shè)備；誤選菜單不會(huì)輸出激磁電壓。CVT測(cè)量時(shí)無10kV高壓輸出。

防誤操作：兩級(jí)電源開關(guān)；電壓、電流實(shí)時(shí)監(jiān)視；多次按鍵確認(rèn)；接線端子高/低壓分明；慢速升壓，可迅速降壓，聲光報(bào)警。

防“容升”：測(cè)量大容量試品時(shí)會(huì)出現(xiàn)電壓抬高的“容升”效應(yīng)，儀器能自動(dòng)跟蹤輸出電壓，保持試驗(yàn)電壓恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導(dǎo)線，可拖地使用。

抗震性能：儀器采用*抗震設(shè)計(jì)，可耐受強(qiáng)烈長(zhǎng)途運(yùn)輸震動(dòng)、顛簸而不會(huì)損壞。

1.3.4打印存儲(chǔ)

儀器自帶微型打印機(jī)，可以將測(cè)量結(jié)果打印輸出，并將測(cè)量結(jié)果存貯到儀器內(nèi)（可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)）或U盤，以便日后查閱。

1.3.5實(shí)時(shí)時(shí)鐘

儀器內(nèi)帶實(shí)時(shí)時(shí)鐘，實(shí)時(shí)顯示，并能記錄測(cè)量的日期和時(shí)間。

1.3.6各型號(hào)測(cè)試功能說明

B型：輕便型，高壓大輸出電流為140mA，具有正接線、反接線功能，可選擇內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)/外高壓多種工作模式，一體化結(jié)構(gòu)，可做各種常規(guī)介損試驗(yàn)。

D型：實(shí)用型，高壓大輸出電流為200mA，具有正接線、反接線、反接線低壓屏蔽、CVT自激法，反接線低壓屏蔽功能能在220kV CVT母線接地情況下，對(duì)C11進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測(cè)量，并可一次接線同時(shí)測(cè)出兩個(gè)電容的電容量和介損值。CVT自激法測(cè)量時(shí)，C1/C2可一次接線同時(shí)測(cè)出，無須換線和外接任何配件，但高壓測(cè)量線需懸空吊起。

E型：標(biāo)準(zhǔn)型，在D型基礎(chǔ)上增加了CVT變比測(cè)試功能，同時(shí)升級(jí)了CVT自激法測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)CVT自激法測(cè)試時(shí)高壓測(cè)量線可拖地使用，無需吊起。

F型：增強(qiáng)型，功能同E型，輸出高電壓從10kV增加至12kV。

K型：標(biāo)準(zhǔn)型，在E型基礎(chǔ)上減小體積重量，設(shè)備更精巧。

S型：四通道型，功能同E型，增加了3個(gè)正接通道。

J型：高精度型，功能同E型，測(cè)量準(zhǔn)確度為0.5%。

所有型號(hào)儀器均具備下述特點(diǎn)：

（1）支持變頻和諧振電源高電壓介損。

（2）內(nèi)置串聯(lián)和并聯(lián)兩種介損測(cè)量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打印機(jī)，使打印更加快捷、無噪音和清晰。

（4）320×240點(diǎn)陣大屏液晶顯示，菜單操作，測(cè)試數(shù)據(jù)豐富，自動(dòng)分辨電容、電感、電阻型試品。

（5）具有外接標(biāo)準(zhǔn)電容器接口，可外接油杯做精密絕緣油介損試驗(yàn)，可外接固體材料測(cè)量電極做精密絕緣材料介損試驗(yàn)，也可外接高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器做高電壓介損試驗(yàn)。

（6）帶日歷時(shí)鐘，可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)。

（7）計(jì)算機(jī)接口（選配）。

面板說明

高壓輸出測(cè)量接地：若出廠配置的高壓測(cè)試線有接地屏蔽層，則需將高壓測(cè)量線的接地屏蔽層連接至此處，沒有則留空。CVT自激法測(cè)量的高壓連線接地屏蔽層在拖地模式下必須接地，非拖地模式下接地屏蔽層應(yīng)懸空不能接地且高壓測(cè)量線也應(yīng)懸空吊起不能拖地。

高壓輸出插座（0.5～10kV，大200mA）

安裝位置：如圖2-1所示，安裝在箱體前側(cè)面。

功    能：內(nèi)高壓輸出；檢測(cè)反接線試品電流；內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端。

接線方法：插座1腳接高壓線芯線（紅夾子），2、3腳接高壓線屏蔽（黑夾子）。正接線時(shí)，高壓線芯線（紅夾子）和屏蔽（黑夾子）都可以用作加壓線；反接線時(shí)只能用芯線對(duì)試品高壓端加壓。如果試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環(huán)）可接高壓屏蔽，無屏蔽時(shí)高壓屏蔽懸空。若配置的高壓測(cè)試線有接地屏蔽層，則需將高壓測(cè)量線的接地屏蔽層連接至圖2-1中的“1”處。

注意事項(xiàng)：

（1）若儀器CVT自激法高壓連線具備“高壓拖地”功能，使用拖地模式測(cè)量時(shí)務(wù)必使用原廠配置的高壓電纜（原廠電纜在出廠時(shí)已進(jìn)行校準(zhǔn)），不可使用其它高壓電纜代替，否則會(huì)引起較大的測(cè)量誤差。CVT自激法不使用拖地模式時(shí)，高壓電纜必須懸空，接地屏蔽層也不能接地！

（2）高壓插座和高壓線有危險(xiǎn)電壓，禁止碰觸高壓插座、電纜、夾子和試品帶電部位！確認(rèn)斷電后接線，測(cè)量時(shí)務(wù)必遠(yuǎn)離！

（3）用標(biāo)準(zhǔn)介損器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢定反接線精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線會(huì)引起測(cè)量誤差。

（4）應(yīng)保證高壓線與試品高壓端零電阻連接，否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動(dòng)，也可能引起儀器保護(hù)。

（5）強(qiáng)干擾下拆除接線時(shí)，應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接，以防感應(yīng)電擊。

CVT自激法低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的接地接線柱“4”輸出CVT測(cè)量的低壓變頻激勵(lì)電源。

注意事項(xiàng)：

（1）因低壓輸出電流大，應(yīng)采用儀器低阻線連接CVT二次繞組，接觸不良會(huì)影響測(cè)量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電壓電流保護(hù)限。

（3）選擇正/反接線時(shí)，此輸出封閉。

測(cè)量接地：它同外殼和電源插座地線連到一起，與圖2-1的“3”一起輸出CVT測(cè)量的低壓變頻激勵(lì)電源。盡管儀器有接地保護(hù)，但無論何種測(cè)量，儀器都應(yīng)可靠獨(dú)立接地以保障使用者的安全及測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確。

打印機(jī)：微型熱敏打印機(jī)，用于打印測(cè)試數(shù)據(jù)。

USB：USB通信用。

RS232：與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)使用。

U盤：用于外接U盤保存數(shù)據(jù)。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時(shí)輸入試品電流。

接線方法：插座1腳接測(cè)量線芯線（紅夾子），2、3腳接測(cè)量線屏蔽（黑夾子）。正接線時(shí)芯線（紅夾子）接試品低壓信號(hào)端，如果試品低壓端有屏蔽極（如低壓端的屏蔽環(huán)）可接屏蔽，試品無屏蔽時(shí)屏蔽懸空。

注意事項(xiàng)：

（1）測(cè)量中嚴(yán)禁拔下插頭，防止試品電流經(jīng)人體入地！

（2）用標(biāo)準(zhǔn)介損器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢測(cè)儀器正接線精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線會(huì)引起測(cè)量誤差。

（3）應(yīng)保證引線與試品低壓端0電阻連接，否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動(dòng)，也可能引起儀器保護(hù)。

（4）強(qiáng)干擾下拆除接線時(shí)，應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接，以防感應(yīng)電擊。

標(biāo)準(zhǔn)電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標(biāo)準(zhǔn)電容器電流。

接線方法：與Cx插座類似，其區(qū)別在于：

（1）使用外部標(biāo)準(zhǔn)電容器時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接。此方式常用于外接高電壓等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高電壓介損測(cè)量。

（2）菜單選擇“外標(biāo)準(zhǔn)電容”方式。

（3）將外接標(biāo)準(zhǔn)電容器的C和tgδ置入儀器，實(shí)現(xiàn)Cx電容介損的值測(cè)量。

從理論上講，任何容量和介損的電容器，將參數(shù)置入儀器都可做標(biāo)準(zhǔn)電容器。不同的是標(biāo)準(zhǔn)電容器能提供更好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和精度。

（4）不管正接線還是反接線測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)電容器接線方式始終為正接線。

總電源開關(guān)：開關(guān)機(jī)用，可在發(fā)現(xiàn)異常時(shí)隨時(shí)關(guān)閉。

供電電源插座：接220V市電，插座內(nèi)置保險(xiǎn)絲座，保險(xiǎn)絲規(guī)格為10A / 250V，若損壞應(yīng)使用相同規(guī)格的保險(xiǎn)絲替換。若換用備用保險(xiǎn)絲后仍燒斷，可能儀器有故障，可通知廠家處理。

高壓允許開關(guān)：內(nèi)置高壓系統(tǒng)或CVT自激法低壓輸出系統(tǒng)的總電源開關(guān)。此開關(guān)受總電源開關(guān)控制。

按鍵：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可移動(dòng)光標(biāo)和修改光標(biāo)處內(nèi)容，“確認(rèn)”鍵用于確認(rèn)或結(jié)束參數(shù)修改，在測(cè)試界面長(zhǎng)按該鍵可開始測(cè)量，測(cè)量過程中，按“確認(rèn)”鍵可終止測(cè)量。

液晶顯示屏：320×240點(diǎn)陣灰白背光液晶顯示屏，顯示菜單、測(cè)量結(jié)果或出錯(cuò)信息。應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間陽(yáng)光爆曬，避免重壓。

背光調(diào)節(jié)：液晶顯示屏顯示較暗或不清晰時(shí)可調(diào)節(jié)該電位器至合適位置使顯示明亮清晰。

指示燈：配合儀器內(nèi)部蜂鳴器進(jìn)行測(cè)試、報(bào)警等聲光警示。

使用說明

3.1初始菜單界面

打開總電源開關(guān)后，系統(tǒng)進(jìn)入初始菜單界面。

測(cè)試模式：選擇測(cè)試模式和設(shè)置各項(xiàng)測(cè)試參數(shù)，

歷史記錄：查看保存的歷史數(shù)據(jù)

系統(tǒng)設(shè)置：出廠參數(shù)設(shè)置及系統(tǒng)時(shí)間校準(zhǔn)

幫    助：可查閱軟件版本等信息

取消或使用CVT自激法“高壓連線拖地”功能：

開機(jī)右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測(cè)試時(shí)高壓連線具備拖地功能。

光標(biāo)停留在“測(cè)試模式”處長(zhǎng)按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當(dāng)前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測(cè)量接地）處，否則會(huì)引起測(cè)量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時(shí)高壓連線的接地屏蔽層插頭也應(yīng)懸空，否則會(huì)引起測(cè)量誤差。

使用或取消發(fā)“發(fā)電機(jī)供電”模式：

光標(biāo)停留在“測(cè)試模式”處長(zhǎng)按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發(fā)電機(jī)供電模式（左下角顯示“”表示當(dāng)前為發(fā)電機(jī)供電模式），儀器開機(jī)默認(rèn)為市電供電模式，發(fā)電機(jī)模式適合使用發(fā)電機(jī)或移動(dòng)電源供電環(huán)境，發(fā)電機(jī)模式下儀器將不進(jìn)行接地檢測(cè)。

3.2測(cè)試模式

3.2.1 開始測(cè)試菜單界面

在初始菜單界面將光標(biāo)移動(dòng)到“測(cè)試模式”按確定按鈕進(jìn)入開始測(cè)試菜單界面，如圖3-2所示。

界面左側(cè)為參數(shù)設(shè)置選項(xiàng)，移動(dòng)光標(biāo)到相關(guān)參數(shù)選項(xiàng)按確定鍵可設(shè)置相關(guān)試驗(yàn)參數(shù)，右側(cè)顯示內(nèi)容為已設(shè)置好試驗(yàn)參數(shù)，光標(biāo)停留在“開始測(cè)試”欄長(zhǎng)按“確認(rèn)” 鍵可開始測(cè)試。

界面右側(cè)“測(cè)試地點(diǎn)”下一行為信息提示行，若內(nèi)外高壓選擇有誤則提示“當(dāng)前為內(nèi)高壓模式，請(qǐng)開啟內(nèi)高壓”或“當(dāng)前為外高壓模式，請(qǐng)關(guān)閉內(nèi)高壓”；若儀器沒有接地則會(huì)提示“請(qǐng)檢查接地”，當(dāng)有錯(cuò)誤提示時(shí)儀器無法正常啟動(dòng)，只有提示“確認(rèn)無誤后長(zhǎng)按確認(rèn)鍵開始測(cè)試”時(shí)儀器方可啟動(dòng)測(cè)試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界面

將光標(biāo)移動(dòng)到“試品模型”功能選項(xiàng)，界面如圖3-3所示，按“確認(rèn)”按鈕后移動(dòng)光標(biāo)可選擇合適的試品模型（光標(biāo)移動(dòng)到相應(yīng)功能后按確認(rèn)鍵）。實(shí)驗(yàn)室一般使用串聯(lián)型介損因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器檢定，校驗(yàn)時(shí)應(yīng)使用RC串聯(lián)模型。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)：采用電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)，該項(xiàng)在開始測(cè)試界面顯示"RC串聯(lián)"。

    RC串聯(lián)(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器) ，該項(xiàng)在開始測(cè)試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

RC并聯(lián)(現(xiàn)場(chǎng)使用)：一般實(shí)際的電容試品可等效為RC并聯(lián)模型，建議現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)的區(qū)別只是電容量不同：為西林型電橋標(biāo)定值，C為電流比較儀型電橋標(biāo)定值。

3.2.3 接線方式選擇菜單界面

將光標(biāo)移動(dòng)到“接線方式”功能選項(xiàng)，界面如圖3-4所示，按“確認(rèn)”按鈕后移動(dòng)光標(biāo)可選擇合適的接線方式。

接線方式：共5種接線方式（功能因型號(hào)有差別，具體詳見型號(hào)功能說明部分），分別為：正接線、反接線、反接線低壓屏蔽、CVT自激法和變比。選擇CVT自激法測(cè)量時(shí)需同時(shí)將相關(guān)參數(shù)一并設(shè)置好。

CVT自激法測(cè)量必須打開內(nèi)高壓允許開關(guān)，由機(jī)內(nèi)提供激勵(lì)電壓，由“低壓輸出”和“測(cè)量接地”輸出。為安全起見，CVT自激法還需要設(shè)置以下幾個(gè)保護(hù)限：

將光標(biāo)移動(dòng)到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認(rèn)鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只能使用4kV以下電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測(cè)試品的高壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激勵(lì)電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵(lì)電流上限。

注意：

（1）測(cè)量時(shí)4個(gè)保護(hù)限同時(shí)起作用，因此試驗(yàn)高壓可能達(dá)不到設(shè)定值。如果高壓達(dá)不到保護(hù)限，可適當(dāng)調(diào)整受到限制的保護(hù)限。

（2）通常測(cè)量C1時(shí)低壓激勵(lì)電壓可達(dá)20V，測(cè)量C2時(shí)低壓激勵(lì)電流可達(dá)15A。一般可設(shè)高壓電壓2～3kV，較少采用高壓電流限制，可設(shè)為大200mA。

變比測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇合適的高壓輸出使二次側(cè)電壓小于120V，當(dāng)二次側(cè)電壓≥120V時(shí)儀器會(huì)發(fā)出聲光報(bào)警并提示“接線錯(cuò)誤”。

3.2.4 標(biāo)準(zhǔn)電容選擇菜單界面

將光標(biāo)移動(dòng)到“標(biāo)準(zhǔn)電容”功能選項(xiàng)，界面如圖3-5所示，按“確認(rèn)”按鈕后移動(dòng)光標(biāo)可選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)電容。選擇外標(biāo)準(zhǔn)電容時(shí)需同時(shí)將外標(biāo)準(zhǔn)的電容量和介損一并設(shè)置好。

選擇外標(biāo)準(zhǔn)電容時(shí)將光標(biāo)移動(dòng)到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認(rèn)鍵退出。

Cn采用科學(xué)計(jì)數(shù)法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(shè)置范圍0～±9.999%。

內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容通?？捎糜谡⒎唇泳€測(cè)量和CVT自激法測(cè)量，高電壓介損選用外標(biāo)準(zhǔn)方式，需要將外接電容參數(shù)置入儀器。

3.2.5 測(cè)試頻率選擇菜單界面

測(cè)試頻率可選擇定頻或異頻，頻率選擇菜單界面如圖3-6所示，頻率選擇范圍如下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測(cè)量，此設(shè)置不能抗干擾，在試驗(yàn)室內(nèi)測(cè)量或校驗(yàn)時(shí)選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測(cè)量，研究不同頻率下介損的變化時(shí)選用。

頻率自適應(yīng)：外高壓測(cè)量模式下有效（不能更改），系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別外施高壓頻率，測(cè)試頻率無需在測(cè)試前設(shè)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“55/65Hz”：為自動(dòng)變頻，適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“47.5/52.5Hz”：為自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

3.2.6 測(cè)試電壓選擇菜單界面

內(nèi)高壓可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型高輸出電壓為12kV），應(yīng)根據(jù)高壓試驗(yàn)規(guī)程選擇合適的試驗(yàn)電壓。

注：若選擇“CVT自激法”測(cè)試功能，則該選項(xiàng)無效。CVT自激法的相關(guān)電壓參數(shù)需在該功能選項(xiàng)下進(jìn)行設(shè)置。

3.2.7 測(cè)試備忘設(shè)置菜單界面

設(shè)備編號(hào)：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號(hào)，將光標(biāo)移動(dòng)到”設(shè)備編號(hào)”處，按確認(rèn)健進(jìn)入設(shè)備編號(hào)設(shè)置，通過“←”、“→”健移動(dòng)光標(biāo)，通過↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

測(cè)試人員：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號(hào)，將光標(biāo)移動(dòng)到” 測(cè)試人員”處，按確認(rèn)健進(jìn)入測(cè)試人員設(shè)置，通過“←”、“→”健移動(dòng)光標(biāo)，通過↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

測(cè)試地點(diǎn)：可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號(hào)，將光標(biāo)移動(dòng)到” 測(cè)試地點(diǎn)”處，按確認(rèn)健進(jìn)入測(cè)試地點(diǎn)設(shè)置，通過“←”、“→”健移動(dòng)光標(biāo)，通過↑↓選擇合適值，設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

3.2.8 測(cè)試結(jié)果界面

3.2.8.1反接法測(cè)試結(jié)果界面

測(cè)試完成顯示結(jié)果后，可移動(dòng)光標(biāo)選擇保存或打印數(shù)據(jù)。

儀器自動(dòng)分辨電容、電感、電阻型試品：電容型試品顯示Cx和tgδ；電感型試品顯示Lx和Q；電阻型試品顯示Rx和附加Cx或Lx。自動(dòng)選取顯示單位。

試品為電容時(shí)：顯示數(shù)據(jù)為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并聯(lián)電阻

試品為電感時(shí)：顯示數(shù)據(jù)為L(zhǎng)x、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感和串聯(lián)電阻

試品為電阻時(shí)：顯示數(shù)據(jù)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ   介損因數(shù)[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q     品質(zhì)因數(shù)[無單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗(yàn)電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix    試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ     試品電流超前試驗(yàn)電壓的角度[°度]或測(cè)變比時(shí)一次電壓超前二次電壓的角度

K     測(cè)CVT變比時(shí)，一次電壓比二次電壓

f1    頻率[Hz]，顯示*次測(cè)試頻率

f2    頻率[Hz]，顯示第二次測(cè)試頻率

顯示over表示測(cè)量數(shù)據(jù)超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測(cè)試結(jié)果界面

反接線低壓屏蔽測(cè)試一次接線可同時(shí)測(cè)出C11和C下節(jié)(下端屏蔽部分)的電容量和介損值。

3.2.8.3 CVT自激法測(cè)試結(jié)果界面

CVT自激法按測(cè)量接線，與試品輸入Cx插座連接的定義為C1，與高壓線連接的為C2。U1為測(cè)量C1時(shí)的高壓，U2為測(cè)量C2時(shí)的高壓。

3.3歷史數(shù)據(jù)

進(jìn)入歷史數(shù)據(jù)菜單界面如圖3-12所示。

移動(dòng)光標(biāo)到“U盤”選項(xiàng)按“確定”鍵可將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到U盤，上移到“清空”選項(xiàng)按“確定”鍵可清空保存的全部數(shù)據(jù)。將光標(biāo)移動(dòng)到“>>>>”選項(xiàng)按下“確定”鍵進(jìn)入數(shù)據(jù)選擇界面，光標(biāo)位置默認(rèn)停留在近保存的單條數(shù)據(jù)上，若要查看其他數(shù)據(jù)可上下移動(dòng)光標(biāo)進(jìn)行選擇，選擇好要查看的數(shù)據(jù)后按“確定”按鈕進(jìn)入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。歷史數(shù)據(jù)選擇界面和單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面如圖3-13和圖3-14所示。

進(jìn)入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面后，在左側(cè)功能選項(xiàng)區(qū)上下移動(dòng)光標(biāo)可選擇打印、刪除本條數(shù)據(jù)和退出單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。

3.4系統(tǒng)設(shè)置

進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單可進(jìn)行系統(tǒng)時(shí)間校準(zhǔn)，“出廠設(shè)置”參數(shù)禁止用戶修改，只允許生產(chǎn)廠家進(jìn)行出廠參數(shù)設(shè)置。

3.5幫助

可查看儀器的相關(guān)操作指導(dǎo)。

3.6啟動(dòng)測(cè)量

進(jìn)入測(cè)試界面設(shè)置好各項(xiàng)試驗(yàn)參數(shù)后，將光標(biāo)移動(dòng)到“開始測(cè)試”功能選項(xiàng)上，按住“確認(rèn)”鍵3s以上啟動(dòng)測(cè)量。

啟動(dòng)測(cè)量后發(fā)出聲光報(bào)警；在測(cè)試過程中會(huì)實(shí)時(shí)顯示測(cè)試相關(guān)參數(shù)（電壓、電流、頻率、電容量等參數(shù)）和測(cè)量進(jìn)程(0%～99%)。

測(cè)量中按“確認(rèn)”鍵可取消測(cè)量，遇緊急情況立即關(guān)閉總電源。

測(cè)量過程結(jié)束，儀器自動(dòng)降壓后再顯示結(jié)果。

3.7對(duì)比度調(diào)節(jié)

液晶顯示屏的對(duì)比度已在出廠時(shí)校好，如果您感覺不夠清晰，調(diào)整面板上的電位器使液晶顯示屏顯示內(nèi)容清晰為止。

參考接線

4.1常規(guī)正接線（正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓）

4.2常規(guī)反接線（反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓）

4.3正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓

4.4反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓

4.5正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.6反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.7正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓（高電壓介損）

4.8反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母線接地情況下，對(duì)C11進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測(cè)量。如下圖所示：母線掛地線，C11上端不拆線，C11下端接高壓線芯線，C2末端δ和X接Cx芯線。這樣C12和C2被低壓屏蔽，儀器采用反接線低壓屏蔽測(cè)量方式，可同時(shí)測(cè)出C11和下端被屏蔽部分的電容量和介損值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯線接C2下端，Cx芯線接C12上端。在CVT 自激法測(cè)量中，儀器先測(cè)量C12，然后自動(dòng)倒線測(cè)量C2，并自動(dòng)校準(zhǔn)分壓影響。

1）D型高壓連線不可拖地，高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面（高壓線的接地屏蔽層插頭必須懸空），否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差，可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機(jī)初始界面（圖3-1界面），光標(biāo)停留在“測(cè)試模式”處長(zhǎng)按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當(dāng)前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測(cè)量接地）處，否則會(huì)引起測(cè)量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應(yīng)懸空，否則會(huì)引起測(cè)量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準(zhǔn)），否則會(huì)引起測(cè)量誤差！

4.11 CVT變比測(cè)試

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地，CVT下端接地，低壓線紅黑夾子接二次繞組。

常見CVT的參考測(cè)量方法

目前常見的電容式電壓互感器可分為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級(jí)，一般110kV的CVT其C1就一節(jié)，220kV的CVT其C1有兩節(jié)，而500kV的CVT其C1有三節(jié)。

5.1  500kV CVT的測(cè)量方法

1）C11的測(cè)量方法

按圖5-1標(biāo)明的方式接線，測(cè)量C11時(shí)應(yīng)注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線的芯線（紅夾子），b點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線的高壓屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測(cè)量方法

按圖5-2標(biāo)明的方式接線，測(cè)量C12時(shí)注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線芯線（紅夾子），b點(diǎn)接黑色低壓測(cè)試線芯線（紅夾子）

3）C13和C2的測(cè)量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測(cè)試。按圖5-3標(biāo)明的方式接線，儀器選用CVT自激法測(cè)量方式，試驗(yàn)電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測(cè)量C13和C2兩個(gè)電容的介損和電容量。

5.2  220kV CVT的測(cè)量方法

1）C11的測(cè)量方法

按圖5-4標(biāo)明的方式接線，測(cè)量C11時(shí)注意：

◇ δ和X相連，與接地分開。

◇ a點(diǎn)接紅色高壓測(cè)試線的芯線（紅夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測(cè)量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測(cè)試。按圖5-5標(biāo)明的方式接線，儀器選用CVT自激法測(cè)量方式，試驗(yàn)電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測(cè)量C12和C2兩個(gè)電容的介損和電容量。

5.3  110kV CVT的測(cè)量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法，不需外加任何其它設(shè)備，就可以完成測(cè)試。按圖5-6標(biāo)明的方式接線，儀器選用CVT自激法測(cè)量方式，試驗(yàn)電壓可設(shè)置為2kV，CVT自激法能一次測(cè)量C13和C2兩個(gè)電容的介損和電容量。

現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)注意事項(xiàng)

如果使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下方面查找原因：

6.1搭鉤接觸不良

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線氧化層太厚，或風(fēng)吹線擺動(dòng)，易造成接觸不良。

6.2接地接觸不良

接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

6.3直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT

直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，消除負(fù)介損可采取下述措施或改用CVT自激法測(cè)量：

1）測(cè)試時(shí)測(cè)量?jī)x器的接地端直接接在被試品的金屬底座上，并保證接觸良好。

2）條件允許時(shí)盡可能將非被試?yán)@組短接，以減小電感和鐵心損耗的影響。

3）被試品周圍不應(yīng)有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡可能減小分布阻抗的影響。

4）試驗(yàn)引線與被試品的夾角應(yīng)盡可能接近90°，以減小線與試品間的分布電容。

用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。

6.4空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。

6.5發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時(shí)可采用定頻50Hz模式工作。

6.6測(cè)試線

1）由于長(zhǎng)期使用，易造成測(cè)試線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸不良，用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線。

2）測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映儀器精度。

3）自激法測(cè)量CVT時(shí)，若使用“高壓連線拖地”功能，請(qǐng)務(wù)必使用原廠配置的高壓電纜（原廠電纜在出廠時(shí)已進(jìn)行校準(zhǔn)），高壓連線的接地屏蔽層必須接地，不可使用其它高壓電纜代替，否則會(huì)引起較大的測(cè)量誤差。若拖地模式下測(cè)量誤差較大，則需將高壓電纜返廠重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

4）自激法測(cè)量CVT時(shí)，非的高壓線應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。使用電纜在非拖地模式下測(cè)量CVT，高壓電纜也應(yīng)懸空且電纜的接地屏蔽層不能接地，否則會(huì)引起較大的測(cè)量誤差。

6.7工作模式選擇

接好線后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式，不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

6.8試驗(yàn)方法影響

由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時(shí)可首先檢查接線，然后檢查是否為儀器故障。

6.9儀器故障

1）用萬用表測(cè)量一下測(cè)試線是否斷路，或芯線和屏蔽是否短路；

2）輸入電源220V過高或過低；接地是否良好；

3）用正、反接線測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒有問題；

4）拔下所有測(cè)試導(dǎo)線，進(jìn)行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。

儀器檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度，應(yīng)使用比對(duì)法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。

1）介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器一般為串聯(lián)模型，因此儀器的試品模型應(yīng)選擇“RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)”或“RC串聯(lián)(西林型電橋)”。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)：采用電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)，該項(xiàng)在開始測(cè)試界面顯示"RC串聯(lián)"。

    RC串聯(lián)(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器) ，該項(xiàng)在開始測(cè)試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)的區(qū)別只是電容量不同：

為西林型電橋標(biāo)定值，C為電流比較儀型電橋標(biāo)定值。

2）用介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢定儀器反接線精度時(shí)，高壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會(huì)引起測(cè)量誤差。

3）用介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器（或標(biāo)準(zhǔn)電容器）檢定儀器正接線精度時(shí)，低壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會(huì)引起測(cè)量誤差。

嚴(yán)格按照上述要求檢定方能真實(shí)反映本儀器的測(cè)量精度！

7.2抗干擾能力

設(shè)置一個(gè)回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dòng)后會(huì)使220V供電電路帶有測(cè)量頻率分量，如果該頻率分量又通過干擾電流進(jìn)入儀器，則無法檢驗(yàn)儀器的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾，因?yàn)檫@樣很容易產(chǎn)生近距離*放電，這種放電電阻是非線性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。